光源控制
功能说明
光源控制用于调节机台光源的亮度，以获得清晰的工件图像。良好的光照条件有助于提高边缘检测精度和测量结果的准确性。
操作方式
打开光源控制
设备光源可通过以下两种方式控制：
- 点击测量操作区中的光源按键
- 在光源区直接操作
调整亮度
通过拖动对应的滚动条来调整亮度。向右拖动增加亮度，向左拖动降低亮度。
- 表面光：调节上光源亮度，用于照亮工件表面特征
- 轮廓光：调节下光源（背光）亮度，用于突出工件轮廓边缘
- 同轴光：调节同轴光源亮度，适用于高反光工件表面测量
上光源分区调节
如果设备支持上光源分区控制，可分别调节各区域的亮度：
- 点击光源界面对应的区域
- 点击上光源旁的展开按键，可显示各个区域亮度的滚动条
- 分别拖动各区域的滚动条，实现分区亮度控制
提示
上光源分区调节适用于工件表面反光不均匀的情况，通过调整不同区域的亮度可获得更均匀的图像效果。
注意事项
- 光源亮度过高可能导致图像过曝，丢失工件细节
- 光源亮度过低可能导致图像对比度不足，影响边缘识别
- 不同工件材质和表面状态需要不同的光照条件，建议根据实际情况调节
- 上光源分区功能因设备配置不同可能有所差异